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研究生: 侯洋守
Hou, Yang-Shou
論文名稱: 對CMOS金屬化中由靜電放電誘發之電遷移研究
Study on ESD-Induced Electromigration in CMOS Metallization
指導教授: 林群祐
Lin, Chun-Yu
口試委員: 黃紹璋
Huang, Shao-Chang
張子璿
Chang, Tzu-Hsuan
林群祐
Lin, Chun-Yu
口試日期: 2023/12/22
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 電機工程學系
Department of Electrical Engineering
論文出版年: 2024
畢業學年度: 112
語文別: 英文
論文頁數: 93
研究方法: 實驗設計法
DOI URL: http://doi.org/10.6345/NTNU202400022
論文種類: 學術論文
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    2027/01/01
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