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| 研究生： |
侯洋守 Hou, Yang-Shou |
|---|---|
| 論文名稱： |
對CMOS金屬化中由靜電放電誘發之電遷移研究 Study on ESD-Induced Electromigration in CMOS Metallization |
| 指導教授： |
林群祐
Lin, Chun-Yu |
| 口試委員： |
黃紹璋
Huang, Shao-Chang 張子璿 Chang, Tzu-Hsuan 林群祐 Lin, Chun-Yu |
| 口試日期： | 2023/12/22 |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
電機工程學系 Department of Electrical Engineering |
| 論文出版年： | 2024 |
| 畢業學年度： | 112 |
| 語文別： | 英文 |
| 論文頁數： | 93 |
| 研究方法: | 實驗設計法 |
| DOI URL： | http://doi.org/10.6345/NTNU202400022 |
| 論文種類： | 學術論文 |
| 相關次數： | 點閱：104 下載：0 |
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電子全文延後公開2027/01/01