研究生: |
吳明福 |
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論文名稱: |
非接觸式奈米開關的研究-利用掃描式穿隧電流顯微鏡及硫化亞銅薄膜 Non-contact nanometer-scale switch using scanning tunneling microscopy and copper sulfide film |
指導教授: | 張秋男 |
學位類別: |
碩士 Master |
系所名稱: |
光電工程研究所 Graduate Institute of Electro-Optical Engineering |
論文出版年: | 2007 |
畢業學年度: | 95 |
語文別: | 中文 |
論文頁數: | 79 |
中文關鍵詞: | 掃描式穿隧電流顯微鏡 、硫化亞銅薄膜 |
論文種類: | 學術論文 |
相關次數: | 點閱:144 下載:12 |
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本實驗利用電解方法將Cu薄膜表面硫化形成Cu2S薄膜,製作出(Cu2S/Cu /Si wafer) 雙層薄膜的結構。藉由STM探針針尖的穿隧電流與Cu2S 薄膜之間發生電化學反應,使在Cu2S 薄膜中銅離子會產生氧化與還原變化,而使穿隧電流產生開「1」和關「0」的動作。本論文將此開關的特性測出來並加以討論。
我們發現在50nm的針尖上施加正負0.5 V時,電解 4 分鐘條件所製成的Cu2S薄膜銅離子完全”完全”還原及氧化的反應時間最快;”完全”還原之反應時間為1.12 s,所測量電流值為- 52 nA,銅”完全”氧化之反應時間為1.18 s,所測量電流值為 0 nA。
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