首先對於康普吞散射(Compton scattering)的基本原理做一說明，而後解釋康普吞散
射與電子動量之間的關係。再說明康普吞攝像(Compton profile) 與能譜之間的關係
。
接著對於實驗的裝置，包括放射源、偵測系統等，做一說明。文中亦對於因實驗裝置
所引起的誤差範圍加以討論。
再對於各種能譜遠原法的特性做一比較，包括了反轉矩陣法(reverse matrix method
) 、硬截傳立葉轉換法(Fourier transform by hard cut) 、軟截傳立葉轉換法(Fo-
urier transform by soft cut)等。
而後將上述的遠原法應用於銀、鋅、鎘的康普吞後角散射實驗中，求得其散射能譜。
其中再利用各種處理數據的步驟，消掉背景輻射、偵測器的偵測效率、空氣及靶的吸
收效應、C 因子、多重散射修正等的影響，而求得其電子動量之分佈。有關多重散射
的修正，則使用蒙地卡羅法(Monte Carlo Method)
於理論值的計算方面，對面心結構（銀）及六面緊密堆積結構（鋅、鎘）的物質，使
用再歸一自由原子模型（最外層電子）〔R.F.A.〕及自由原子模型（內層電子）的計
算結果加以說明。經過剩餘儀器函數〔R.I.F.〕的處理，再與實驗值做比較，發現兩
者之間有不錯的吻合度。
因此就康普吞攝像而言，他們的電子組態分別為鋅3d 4s 、銀4d 5s 、鎘4d 5s
。